サイバネットシステムは1月15日、LCDや有機EL(OLED)の発光欠陥を高精度、短時間で測定できるFPD欠陥検査装置「FPIS」を発表した。目視では検出困難な高精細ディスプレイの欠陥を、移動ステージを使用せずに検出することができる。また、「高精度版は、ディスプレイの全サブ画素1個1個の輝度が測定でき、画素ごとの輝度の
ばらつきを評価することも可能。販売計画は初年度2億円、3年目には5億円を目指している。