パナソニックは、ドイツのフラウンホーファー研究機構の試験で同社製太陽電池モジュールが、出力低下現象「PID」への耐性が実証されたと15日発表した。
 10台の太陽電池モジュールを50度C、相対湿度50%、正と負の電圧1000ボルトの環境下で48時間試験したところ、出力は低下しなかった。同社によるとPIDは太陽電池セル表面の絶縁層の帯電が原因と考えられているが、同社の「HIT太陽電池」は絶縁層を用いないためPIDは起きないという。