クラボウは、Convertech JAPAN 2015(1月28日~30日開催)において、回路パターン検査用のシート外観検査システムを実機展示した。
タッチパネル向けでは、回路パターンの1/2および1/3ルールに対応した全数・全面検査の自動化を実現。メタルメッシュを用いた取り出し配線およびセンサパターンの検査にも対応している。
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グラビアオフセット印刷やインクジェット印刷、スクリーン印刷、フォトリソエッチングなどの各工程で発生する痩せた配線や部分断線、突起、残渣のインライ ン検査が可能で、量産ベースで採用された他、アンテナ素子などでも車載向けなどで回路パターン検査の引き合いが出ているという。
一方、光干渉式膜厚計を参 考出展した。従来の光干渉式膜厚計は、フィルムのばたつき状態での計測を苦手としていたが、こうした測定距離の変動を克服したオンライン測定を実 現。インフレーションフィルムの製造工程など、従来の赤外線吸収式膜厚計で使用される反射板や受光部などの設置箇所がないケースを補完するために開発中と している。