
新製品は、卓上型分光測色計の主力シリーズで24年ぶりの全面改良となる。従来は卓上型の測色計とハンディータイプの光沢計のそれぞれで色と光沢を測定する必要があったが、新製品は色と光沢の同時測定が可能。対象物を各計測器に付け替える手間が省けるため、1回当たりの測定時間を十数秒から約4秒に短縮できる。従来、別々のソフトで管理していた色と光沢の測定結果も、一つのソフトで管理できる。
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液晶・有機EL・プラズマ、FPD業界・パネルメーカー・関連企業情報を掲載。当ブログで激しい市場動向に追随!--Since Nov.2004
・薄膜トランジスタ(TFT)アレイの駆動状態を光学イメージ化して非破壊で一括検査する技術を大幅に改良
・ディスプレーなど情報出力機器のTFTとストレージキャパシター 30,000素子を3分以内に一括検査
・印刷法で製造した大面積デバイスのインライン検査を可能にし、高品質化に貢献
国立研究開発法人 産業技術総合研究所【理事長 中鉢 良治】(以下「産総研」という)フレキシブルエレクトロニクス研究センター【研究センター長 鎌田 俊英】 フレキシブル材料基盤チーム 堤 潤也 主任研究員、同研究センター 長谷川 達生 総括研究主幹らは、産総研が独自に開発した薄膜トランジスタ(TFT)アレイ一括検査技術の測定感度と検査面積を大幅に向上させるとともに、本技術を応用したストレージキャパシターの検査を可能にした。