平面部品の表面粗さ、カメラ・液晶で計測 九州工大

九州工業大学の岡部孝弘教授らは、カメラと液晶ディスプレーで部品の表面粗さを計測する技術を開発した。対象部品や光源を動かさず、面的な表面粗さ分布を求められる。精密部品などの計測対象を動かせない場面や、光源の駆動機構を持ち込めない装置内計測などに向く。平面部品の計測に成功したことから、曲面部品や立体部品への応用を目指す。

表面粗さを計測する際に対象部品の表面が鏡面ならば光は正反射し、荒れていれば光が散乱する。そこで光源を動かし、さまざまな角度から光を当てて散乱光を計測する。この光源を動かす仕組みを大型液晶ディスプレーで代替した。液晶ディスプレーを一様に光らせるのでなく、光源を動かすような画像を提示する。