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August 17, 2026

ガラス基板量産の壁 「見えない欠陥」を可視化 非破壊3D解析の新装置

jn20260804tomocube000ガラス基板は、次世代半導体パッケージの有力材料として注目されている。しかし、レーザー加工やエッチングなどで生じるクラックや空隙などの内部欠陥は表面検査だけでは把握しにくく、量産時の歩留まりを左右する課題となっている。韓国Tomocube社は、この課題に対応する非破壊3D解析装置「HT-T1 Desktop(HT-T1D)」を投入した。本稿では、その技術的な特徴と、ガラス基板の量産にどのように貢献するのかを紹介する。

 AIアクセラレーターや広帯域メモリ(HBM)を支える先端パッケージング技術が進化する中、次世代の基板材料として注目が集まっているのが「ガラス」だ。ガラスコア基板やガラスインターポーザーは、寸法安定性や平たん性、電気的特性などの面で優位性が期待されている。しかし、一方で量産化への最大の障壁は、製造工程で発生する微小欠陥の検出と、その根本原因の特定が大きな課題となっている。



 特に、TGV(Through Glass Via:ガラス貫通電極)形成に用いられるレーザー加工やエッチング、その後の金属化、基板を個片化するシンギュレーションなどでは、ガラス内部にクラックや空隙、局所的な変質が生じる可能性がある。こうした微小欠陥は表面からの観察だけでは捉えにくく、最終工程まで進んだ後に不良として顕在化すれば、製造コストや歩留まりへの影響も大きい。

圧倒的な分解能と撮像深度で「真の姿」を捉える
 こうしたガラス基板の量産に向けた課題に対応する製品として非破壊3次元(3D)検査/計測技術を手掛ける韓国Tomocube社が2026年7月、デスクトップ型ホロトモグラフィーシステム「HT-T1 Desktop(HT-T1D)」を発売した。本装置は、可視光を用いてガラス内部の3D屈折率分布を可視化し、透明材料内部に存在する欠陥の位置や形状、深さ方向の特性を非破壊で解析。従来は数日~数週間を要していた解析フローを数分に短縮するという。本稿ではその詳細を紹介する。

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