
本技術は、有機EL素子に急激に電流が流れ始める電圧と発光開始電圧の差が素子の劣化に伴い大きくなることに着目してこの差を数値化するもので、長寿命化が要求される有機EL素子において、劣化や低輝度で発生する表示ムラの解析に役立つことが期待されます。
本技術について、8月に韓国で開催されたディスプレイに関する国際会議International Meeting on Information Displayにて、三者による共同発表を行いました。
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